EXPERIMENTAL STUDY OF AVALANCHE BREAKDOWN IN SILICON PLANAR P-N JUNCTIONS

被引:5
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作者
WILSON, PR
机构
关键词
D O I
10.1109/PROC.1967.5854
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:1483 / &
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