DEFECT STRUCTURE IN DISLOCATION - FREE SILICON CRYSTALS GROWN BY FLOAT-ZONE METHOD

被引:0
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作者
PLASKETT, TS
机构
来源
JOM-JOURNAL OF METALS | 1964年 / 16卷 / 01期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TF [冶金工业];
学科分类号
0806 ;
摘要
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页码:105 / &
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