INTRINSIC DEFECTS IN SILICON AND THEIR INTERACTION WITH BORON IMPURITIES AT LOW-TEMPERATURES

被引:0
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作者
EMTSEV, VV
MASHOVETS, TV
NAZARYAN, EK
机构
来源
SOVIET PHYSICS SEMICONDUCTORS-USSR | 1982年 / 16卷 / 10期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
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