LOW-ENERGY ELECTRON-LOSS SPECTROSCOPY AND AUGER-ELECTRON-SPECTROSCOPY STUDIES OF NOBLE-METAL SILICON INTERFACES - SI-AU SYSTEM

被引:56
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作者
PERFETTI, P
NANNARONE, S
PATELLA, F
QUARESIMA, C
CAPOZI, M
SAVOIA, A
OTTAVIANI, G
机构
[1] UNIV MODENA,IST FIS,I-41100 MODENA,ITALY
[2] NAZL RICERCHE,NAZL STRUTT MAT CONSIGLIO GRP,I-41100 MODENA,ITALY
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1982年 / 26卷 / 03期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.26.1125
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
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页数:14
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