Re-synthesis for testability of redundant combinational circuits

被引:0
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作者
Evans, A.H. [1 ]
Macii, E. [1 ]
Poncino, M. [1 ]
机构
[1] Univ of California, La Jolla, United States
来源
Microcomputer Applications | 1998年 / 17卷 / 01期
关键词
D O I
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