OXIDE CHARGE TRAPPING INDUCED BY ION-IMPLANTATION IN SIO2

被引:22
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作者
HARARI, E [1 ]
ROYCE, BSH [1 ]
机构
[1] PRINCETON UNIV,SOLID STATE & MAT LAB,PRINCETON,NJ 08540
关键词
D O I
10.1109/TNS.1973.4327409
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:288 / 292
页数:5
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