DETERMINATION OF THE MINORITY-CARRIER LIFETIME IN SEMICONDUCTORS EXCITED BY AN ELECTRON-BEAM IN A SCANNING ELECTRON-MICROSCOPE

被引：0
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作者：
KONNIKOV, SG
UMANSKII, VE
CHISTYAKOV, VM
LODYZHENSKII, II
机构：
来源：
SOVIET PHYSICS SEMICONDUCTORS-USSR | 1988年 / 22卷 / 10期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号：
070205 ;
摘要：
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页码：1140 / 1143
页数：4
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