HIGH-RESOLUTION ELECTRON-MICROSCOPIC OBSERVATION OF DISORDERED CU-PD ALLOYS

被引:0
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作者
TANAKA, N [1 ]
MIHAMA, K [1 ]
机构
[1] NAGOYA UNIV, FAC ENGN, DEPT APPL PHYS, NAGOYA, AICHI 464, JAPAN
来源
JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY | 1980年 / 29卷 / 03期
关键词
D O I
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中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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