DETERMINATION OF MICRO RHODIUM FILM THICKNESS AND OF GOLD PLATING THICKNESS ON PRINTED CIRCUITS BY BETA RADIATION BACKSCATTER MEASUREMENTS

被引：1

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作者：

EGGEBRAATEN, V

WALKER, LJ

STROBELT, EW

机构：

来源：

ANALYTICAL CHEMISTRY | 1961年 / 33卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1021/ac60177a035

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

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页码：1245 / +

页数：1

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HEDGRAN, A
ARKIV FOR FYSIK, 1952, 5 (1-2): : 29 - 52

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