DETERMINATION OF MICRO RHODIUM FILM THICKNESS AND OF GOLD PLATING THICKNESS ON PRINTED CIRCUITS BY BETA RADIATION BACKSCATTER MEASUREMENTS

被引：1
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作者：
EGGEBRAATEN, V
WALKER, LJ
STROBELT, EW
机构：
来源：
ANALYTICAL CHEMISTRY | 1961年 / 33卷 / 09期
关键词：
D O I：
10.1021/ac60177a035
中图分类号：
O65 [分析化学];
学科分类号：
070302 ; 081704 ;
摘要：
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