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- [31] CHARACTERIZATION AND TESTING OF PHYSICAL FAILURES IN MOS LOGIC-CIRCUITS (REPRINTED FROM INTERNATIONAL TEST CONFERENCE PROCEEDINGS, OCTOBER, 1983)IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS, 1984, 1 (03): : 76 - 86BANERJEE, PABRAHAM, JA
FUNCTIONAL TESTING OF LOGIC-CIRCUITS BY COMPLETE PARTITIONING OF THE NON-FORBIDDEN STATES
被引：0
|作者：
NOVIK, GK
机构：
来源：
关键词：
FUNCTIONAL TESTING - MICROCIRCUITS - SIGNATURE ANALYSIS;
D O I：
暂无
中图分类号：
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ;
0809 ;
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