THE APPLICATION OF LOW-VOLTAGE SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY FOR THE ANALYSIS OF VLSI DEVICES

被引:2
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作者
WOODWARD, M
JONES, DR
机构
关键词
D O I
10.1002/sca.4950110407
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
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页数:6
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