SIMPLE METHOD OF MEASURING DRIFT-MOBILITY PROFILES IN THIN SEMICONDUCTOR-FILMS

被引:70
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作者
PUCEL, RA [1 ]
KRUMM, CF [1 ]
机构
[1] RAYTHEON CO,DIV RES,WALTHAM,MA 02154
关键词
D O I
10.1049/el:19760186
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
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页码:240 / 242
页数:3
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