POINT-DEFECTS AND PRODUCTION MECHANISMS IN SIO2

被引:0
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作者
FOWLER, WB
机构
来源
SEMICONDUCTORS AND INSULATORS | 1983年 / 5卷 / 3-4期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
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页数:16
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