INSITU IR SPECTROSCOPIC STUDY OF A-SI-H THIN-FILMS UNDER PHOTOCHEMICAL VAPOR-DEPOSITION CONDITIONS

被引:0
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作者
WADAYAMA, T [1 ]
SUETAKA, W [1 ]
机构
[1] TOHOKU UNIV,FAC ENGN,DEPT MAT SCI,SENDAI,MIYAGI 980,JAPAN
关键词
D O I
暂无
中图分类号
O646 [电化学、电解、磁化学];
学科分类号
081704 ;
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