CALIBRATION AND USE OF A LITHIUM-DRIFTED SILICON DETECTOR FOR ACCURATE ANALYSIS OF X-RAY-SPECTRA

被引:17
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作者
KEITH, HD [1 ]
LOOMIS, TC [1 ]
机构
[1] BELL TEL LABS INC,MURRAY HILL,NJ 07974
关键词
D O I
10.1002/xrs.1300050210
中图分类号
O433 [光谱学];
学科分类号
0703 ; 070302 ;
摘要
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页数:11
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