EXPERIMENTAL STUDY OF ZEEMAN SPLITTING OF BORON LEVELS IN SILICON

被引:28
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作者
MERLET, F [1 ]
PAJOT, B [1 ]
ARCAS, P [1 ]
JEANLOUIS, AM [1 ]
机构
[1] UNIV PARIS 06, CNRS, LAB INFRAROUGE, BATIMENT 350, 91405 ORSAY, FRANCE
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1975年 / 12卷 / 08期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.12.3297
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
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页码:3297 / 3317
页数:21
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