Guest Editors' Introduction: Top Papers from the 2015 International Test Conference

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作者：
Nicolici, Nicola [1 ]
Stratigopoulos, Haralampos-G. [2 ]
机构：
[1] McMaster Univ, Dept Elect & Comp Engn, Hamilton, ON L8S 4L8, Canada
[2] UPMC Univ Paris 6, Sorbonne Univ, CNRS, LIP6, Paris, France
来源：
IEEE DESIGN & TEST | 2016年 / 33卷 / 06期
关键词：
D O I：
10.1109/MDAT.2016.2594440
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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