Practical solutions for scan design

被引：0
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作者：
Zhang, L
He, XQ
机构：
来源：
1996 2ND INTERNATIONAL CONFERENCE ON ASIC, PROCEEDINGS | 1996年
关键词：
scan path; multi-path design; single path design; clock-tree;
D O I：
暂无
中图分类号：
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
This paper discusses structure of system clocks in circuits, and points out effective methods for scan design. Using these methods we can easily achieve testable design for synchronistic circuits.
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页码：384 / 387
页数：4
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