Special issue on Mutation Testing

被引：3
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作者：
Papadakis, Mike [1 ]
Just, Rene [2 ]
机构：
[1] Luxembourg Univ, Interdisciplinary Ctr Secur Reliabil & Trust, Luxembourg, Luxembourg
[2] Univ Massachusetts, Coll Informat & Comp Sci, Amherst, MA 01003 USA
来源：
INFORMATION AND SOFTWARE TECHNOLOGY | 2017年 / 81卷
关键词：
D O I：
10.1016/j.infsof.2016.08.003
中图分类号：
TP [自动化技术、计算机技术];
学科分类号：
0812 ;
摘要：
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