Dielectric cap disordering of GaAs/AlGaAs multiple quantum well by using plasma enhanced chemical vapour deposited SiN capping layer

被引:0
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作者
Korea Inst of Science and Technology, Seoul, Korea, Republic of [1 ]
机构
来源
J Mater Sci Lett | / 20卷 / 1433-1435期
关键词
D O I
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