Process induced residual stresses in isotropically conductive adhesive joints

被引:0
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作者
Wu, Sean X. [1 ]
Mei, Yuhai [1 ]
Yeh, Chao-pin [1 ]
Wyatt, Karl W. [1 ]
机构
[1] Motorola, Inc, Schaumburg, United States
关键词
D O I
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