A digital metrology process model (MPM) for measuring planning and data analysis and its application with a computer-aided system

被引：0
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作者：
机构：
[1] Chen, Zhehan
来源：
Chen, Zhehan (cloudy731@163.com) | 1967年 / Springer London卷 / 92期
关键词：
Computer aided analysis - Data mining - Information management - Product design - Data handling - Fighter aircraft - Digital devices;
D O I：
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