Measurement of surface roughness of aluminum ground samples using white light interference microscope

被引:0
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作者
Sidki, H.M. [1 ]
机构
[1] National Institute of Standards, P.O. Box 136, Giza 12211, Egypt
来源
Journal of Optics (India) | 2001年 / 30卷 / 04期
关键词
White light interference microscopes;
D O I
10.1007/bf03354734
中图分类号
学科分类号
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