FIELD-STRENGTH MEASUREMENTS OF MICROWAVE-OVEN LEAKAGE AT 915 MHZ

被引：1
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作者：
TELL, RA
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTROMAGNETIC COMPATIBILITY | 1978年 / 20卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1109/TEMC.1978.303612
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：341 / 346
页数：6
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