SPECIAL ISSUE ON CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR-MATERIALS, PROCESSES AND DEVICES - FOREWORD

被引：0
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作者：
BUEHLER, MG
BULLIS, WM
机构：
来源：
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES | 1980年 / 27卷 / 12期
关键词：
D O I：
10.1109/T-ED.1980.20252
中图分类号：
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号：
0808 ; 0809 ;
摘要：
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页码：2203 / 2204
页数：2
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共 50 条
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