SURFACE-TOPOGRAPHY IN SCANNING TUNNELING MICROSCOPY - A FREE-ELECTRON MODEL

被引:29
|
作者
SACKS, W [1 ]
GAUTHIER, S [1 ]
ROUSSET, S [1 ]
KLEIN, J [1 ]
ESRICK, MA [1 ]
机构
[1] LOYOLA COLL,DEPT PHYS,BALTIMORE,MD 21210
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1987年 / 36卷 / 02期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.36.961
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
引用
收藏
页码:961 / 967
页数:7
相关论文
共 50 条