XPS MEASUREMENTS OF ABRUPT GE-GAAS HETEROJUNCTION INTERFACES

被引:45
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作者
GRANT, RW
WALDROP, JR
KRAUT, EA
机构
来源
关键词
D O I
10.1116/1.569806
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
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页码:1451 / 1455
页数:5
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