A METHOD FOR MEASURING THE RATE OF SURFACE RECOMBINATION IN ACCORDANCE WITH THE VARIATION OF THE RESISTANCE OF A SEMICONDUCTOR IN A MAGNETIC FIELD

被引：0
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作者：
ZHUZE, VP
PIKUS, GE
SOROKIN, OV
机构：
来源：
SOVIET PHYSICS-TECHNICAL PHYSICS | 1957年 / 2卷 / 06期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O59 [应用物理学];
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页码：1061 / 1067
页数：7
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