COMPUTATIONAL-COMPLEXITY OF TEST-GENERATION FOR ETG PLAS

被引:0
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作者
MIN, YH [1 ]
MALAIYA, YK [1 ]
GUPTA, B [1 ]
机构
[1] SO ILLINOIS UNIV,DEPT COMP SCI,CARBONDALE,IL 62901
来源
关键词
D O I
10.1049/ip-e.1989.0016
中图分类号
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号
0812 ;
摘要
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页数:5
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