共 50 条
COMPUTATIONAL-COMPLEXITY OF TEST-GENERATION FOR ETG PLAS
被引:0
|作者:
MIN, YH
[1
]
MALAIYA, YK
[1
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GUPTA, B
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机构:
[1] SO ILLINOIS UNIV,DEPT COMP SCI,CARBONDALE,IL 62901
来源:
关键词:
D O I:
10.1049/ip-e.1989.0016
中图分类号:
TP3 [计算技术、计算机技术];
学科分类号:
0812 ;
摘要:
引用
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页码:107 / 111
页数:5
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