SCANNING ELECTRON MICROSCOPY OF EIMERIA-TENELLA OOCYSTS

被引：0
|
作者：
NYBERG, PA
KNAPP, SE
机构：
来源：
PROCEEDINGS OF THE HELMINTHOLOGICAL SOCIETY OF WASHINGTON | 1970年 / 37卷 / 01期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
R38 [医学寄生虫学]; Q [生物科学];
学科分类号：
07 ; 0710 ; 09 ; 100103 ;
摘要：
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页码：29 / &
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