ACCELERATED AGING TEST OF INGAASP-INP DOUBLE-HETEROSTRUCTURE LASER-DIODES WITH SINGLE TRANSVERSE-MODE

被引:19
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作者
IMAI, H [1 ]
MORIMOTO, M [1 ]
ISHIKAWA, H [1 ]
HORI, K [1 ]
TAKUSAGAWA, M [1 ]
WAKITA, K [1 ]
FUKUDA, M [1 ]
IWANE, G [1 ]
机构
[1] NIPPON TELEGRAPH & TEL PUBL CORP,MUSASHINO ELECT COMMUN LAB,MUSASHINO,TOKYO 180,JAPAN
关键词
D O I
10.1063/1.92120
中图分类号
O59 [应用物理学];
学科分类号
摘要
引用
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页数:2
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