QUANTITATIVE-ANALYSIS OF THIN-FILMS BY DC ARC OPTICAL EMISSION-SPECTROSCOPY

被引:7
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作者
HOGREFE, AW
LOWRY, RK
机构
关键词
Compendex;
D O I
10.1366/000370278774331332
中图分类号
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号
0804 ; 080401 ; 081102 ;
摘要
SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE
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