PHOTO-IONIZATION CROSS-SECTION OF POSITIVELY CHARGED DIVACANCIES IN SILICON DEDUCED FROM PHOTOCAPACITANCE MEASUREMENTS

被引：0
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作者：
KOLESNIKOV, NV
LEBEDEV, AA
MALKHANOV, SE
机构：
来源：
SOVIET PHYSICS SEMICONDUCTORS-USSR | 1979年 / 13卷 / 04期
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号：
070205 ;
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