COMBINED SCANNING (EBIC) AND TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPIC INVESTIGATIONS OF DISLOCATIONS IN SEMICONDUCTORS

被引：50
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作者：
BLUMTRITT, H
GLEICHMANN, R
HEYDENREICH, J
JOHANSEN, H
机构：
来源：
PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1979年 / 55卷 / 02期
关键词：
D O I：
10.1002/pssa.2210550231
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：611 / 620
页数：10
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共 50 条
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