COMPARATIVE CALIBRATION OF GLASS MICROPIPETS BY LIGHT AND SCANNING ELECTRON-MICROSCOPY

被引:0
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作者
UNGER, J [1 ]
SCHEVEN, C [1 ]
VOLKSCH, G [1 ]
机构
[1] UNIV JENA,BEREICH WISSENSCH GLASCHEM,SEKT CHEM,DDR-69 JENA,GER DEM REP
来源
MICROSCOPICA ACTA | 1980年 / 83卷 / 02期
关键词
D O I
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中图分类号
TH742 [显微镜];
学科分类号
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页数:6
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