DIFFUSE REFLECTANCE MEASUREMENTS USING FOURIER-TRANSFORM INFRARED (FTIR) SPECTROSCOPY

被引：0
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作者：
WITEK, H
KRISHNAN, K
HILL, SL
MATSUMOTO, H
机构：
[1] DIGILAB,CAMBRIDGE,MA 02139
[2] JASCO INT,TOKYO,JAPAN
来源：
PROCEEDINGS OF THE SOCIETY OF PHOTO-OPTICAL INSTRUMENTATION ENGINEERS | 1981年 / 289卷
关键词：
D O I：
暂无
中图分类号：
O43 [光学];
学科分类号：
070207 ; 0803 ;
摘要：
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页数：3
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