THE XEROGEL STRUCTURE OF THERMALLY EVAPORATED TUNGSTEN-OXIDE LAYERS

被引:55
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作者
SCHLOTTER, P
PICKELMANN, L
机构
关键词
D O I
10.1007/BF02654669
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:207 / 236
页数:30
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