IONIZING-RADIATION EFFECTS IN SOS STRUCTURES

被引:5
|
作者
NEAMEN, D [1 ]
BUCHANAN, B [1 ]
SHEDD, W [1 ]
机构
[1] USAF,SYST COMMAND,CAMBRIDGE RES LABS,BEDFORD,MA 01730
关键词
D O I
10.1109/TNS.1975.4328105
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:2197 / 2202
页数:6
相关论文
共 50 条