SECONDARY-ELECTRON SPECTROSCOPY IN A DEDICATED SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPE

被引：7
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作者：
BLELOCH, AL
机构：
来源：
ULTRAMICROSCOPY | 1989年 / 29卷 / 1-4期
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(89)90240-4
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
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页数：6
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