RELIABILITY OF ELECTRONIC COMPONENTS .8. RELIABILITY PROBLEMS WITH SEMICONDUCTOR MEMORIES AND MICROPROCESSORS

被引:0
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作者
BAJENESCU, TI
机构
来源
F&M-FEINWERKTECHNIK & MESSTECHNIK | 1982年 / 90卷 / 08期
关键词
D O I
暂无
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
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页数:4
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