ELECTROSTATIC PROPERTIES FROM ACCURATE X-RAY-DIFFRACTION DATA

被引:0
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作者
EICHHORN, K [1 ]
机构
[1] UNIV SAARLAND,FACHRICHTUNG KRISTALLOG,D-6600 SAARBRUCKEN,FED REP GER
来源
关键词
D O I
10.1107/S0108767384094526
中图分类号
O6 [化学];
学科分类号
0703 ;
摘要
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页码:C178 / C178
页数:1
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