INTERFACE ROUGHENING DUE TO RANDOM IMPURITIES AT LOW-TEMPERATURES

被引:30
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作者
NATTERMANN, T
RENZ, W
机构
来源
PHYSICAL REVIEW B | 1988年 / 38卷 / 07期
关键词
D O I
10.1103/PhysRevB.38.5184
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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页数:4
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