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SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
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作者
:
STOLL, E
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STOLL, E
机构
:
来源
:
JOURNAL DE MICROSCOPIE ET DE SPECTROSCOPIE ELECTRONIQUES
|
1984年
/ 9卷
/ 03期
关键词
:
D O I
:
暂无
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:213 / 216
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相关论文
共 50 条
[1]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
ROHRER, H
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
ROHRER, H
[J].
PROCEEDINGS OF THE NATIONAL ACADEMY OF SCIENCES OF THE UNITED STATES OF AMERICA,
1987,
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(14)
: 4666
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4666
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ELINGS, V
论文数:
0
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0
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[J].
AMERICAN LABORATORY,
1988,
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[3]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
BINNIG, G
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0
BINNIG, G
ROHRER, H
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0
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ROHRER, H
[J].
SURFACE SCIENCE,
1983,
126
(1-3)
: 236
-
244
[4]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
BINNIG, G
论文数:
0
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0
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BINNIG, G
ROHRER, H
论文数:
0
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0
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ROHRER, H
[J].
HELVETICA PHYSICA ACTA,
1983,
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(1-3):
: 481
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[5]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
不详
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0
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0
不详
[J].
ELECTRO-OPTICS,
1983,
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: 24
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[6]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
BINNIG, G
论文数:
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0
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BINNIG, G
ROHRER, H
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ROHRER, H
[J].
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1985,
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[7]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
VANDELEEMPUT, LEC
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VANDELEEMPUT, LEC
VANKEMPEN, H
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VANKEMPEN, H
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1992,
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[8]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
NISHIKAWA, O
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机构:
TOKYO INST TECHNOL,GRAD SCH NAGATSUTA,DEPT MAT SCI ENGN,YOKOHAMA,KANAGAWA 227,JAPAN
TOKYO INST TECHNOL,GRAD SCH NAGATSUTA,DEPT MAT SCI ENGN,YOKOHAMA,KANAGAWA 227,JAPAN
NISHIKAWA, O
[J].
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1988,
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: 92
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[9]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
BINNIG, G
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BINNIG, G
ROHRER, H
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ROHRER, H
[J].
IBM JOURNAL OF RESEARCH AND DEVELOPMENT,
1986,
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(04)
: 355
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[10]
SCANNING TUNNELING MICROSCOPY
HANSMA, PK
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机构:
IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
HANSMA, PK
TERSOFF, J
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机构:
IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
TERSOFF, J
[J].
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1987,
61
(02)
: R1
-
R23
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