HIGH-RESOLUTION SCANNING-TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY - ASPECTS AND TRENDS OF A NEW METHOD

被引:0
|
作者
WILLASCH, D [1 ]
机构
[1] SIEMENS AG,MESSGERATEWERK BERLIN,D-1000 BERLIN 13,FED REP GER
关键词
D O I
暂无
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
引用
收藏
页码:505 / 506
页数:2
相关论文
共 50 条