VALENCE-ALTERNATION-PAIR MODEL FOR INTERFACE STATES, FIXED OXIDE CHARGES, RADIATION DEFECTS, AND IMPURITIES OF THE SI-SIO2 INTERFACE

被引:13
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作者
HUBNER, K
机构
来源
关键词
D O I
10.1088/0022-3719/17/35/021
中图分类号
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
070205 ;
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页数:7
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