CAUSES OF SOME ERRORS IN MEASUREMENTS IN GRAIN-ORIENTED SILICON-IRON USING THE EPSTEIN SQUARE

被引:6
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作者
DAVIES, D
MOSES, AJ
机构
关键词
D O I
10.1016/0304-8853(82)90109-3
中图分类号
T [工业技术];
学科分类号
08 ;
摘要
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