GROUND-STATE MORPHOLOGY OF RANDOM FRUSTRATED XY SYSTEMS

被引：32
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作者：
VANNIMENUS, J
KIRKPATRICK, S
HALDANE, FDM
JAYAPRAKASH, C
机构：
[1] IBM CORP,THOMAS J WATSON RES CTR,YORKTOWN HTS,NY 10598
[2] UNIV CALIF SAN DIEGO,DEPT PHYS,LA JOLLA,CA 92093
[3] OHIO STATE UNIV,DEPT PHYS,COLUMBUS,OH 43210
[4] CNRS,LAB LOUIS NEEL,F-38042 GRENOBLE,FRANCE
[5] INST MAX VON LAUE PAUL LANGEVIN,F-38042 GRENOBLE,FRANCE
来源：
PHYSICAL REVIEW B | 1989年 / 39卷 / 07期
关键词：
D O I：
10.1103/PhysRevB.39.4634
中图分类号：
T [工业技术];
学科分类号：
08 ;
摘要：
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页码：4634 / 4643
页数：10
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