TESTING OF DIGITAL-SYSTEMS - AN OVERVIEW

被引：0

作者：

BRACHO, S ^{[1
]}

SOLANA, JM ^{[1
]}

VILLAR, E ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV SANTANDER,FAC CIENCIAS,DEPT ELECTR,SANTANDER,SPAIN

来源：

REVISTA DE INFORMATICA Y AUTOMATICA | 1985年 / 64期

关键词：

D O I：

暂无

中图分类号：

TP39 [计算机的应用];

学科分类号：

081203 ; 0835 ;

摘要：

引用

页码：7 / 24

页数：18

共 50 条

[1] TESTING OF DIGITAL-SYSTEMS
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[J]. PROCEEDINGS OF THE IEEE, 1981, 69 (10) : 1321 - 1333
[2] ALGORITHMS FOR FUNCTIONAL TESTING OF DIGITAL-SYSTEMS
LOMBARDI, F
WEY, CL
[J]. INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRONICS, 1987, 62 (05) : 707 - 732
[3] THE PHILOSOPHY OF TESTING DIGITAL-SYSTEMS - A PRAGMATIC APPROACH
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[J]. ELECTRONICS AND POWER, 1981, 27 (02): : 162 - 165
[4] DIGITAL-SYSTEMS
不详
[J]. INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS, 1980, 53 (07): : 49 - 49
[5] DIGITAL-SYSTEMS
不详
[J]. INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS, 1980, 53 (03): : 49 - 49
[6] DIGITAL-SYSTEMS - UPDATE
不详
[J]. INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS, 1981, 54 (02): : 65 - 65
[7] ICS DIGITAL-SYSTEMS
不详
[J]. INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS, 1981, 54 (07): : 55 - 55
[8] DIGITAL-SYSTEMS RELIABILITY
BOSE, SM
[J]. ENGINEERING, 1982, 222 (06): : R1 - R4
[9] ICS DIGITAL-SYSTEMS
不详
[J]. INSTRUMENTS & CONTROL SYSTEMS, 1980, 53 (08): : 53 - 53
[10] GAAS MICROPROCESSORS AND DIGITAL-SYSTEMS - AN OVERVIEW OF R-AND-D EFFORTS
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